Разработка автоматизированного места тестирования высокочастотных оптоэлектронных элементов и узлов в реальном масштабе времени

Системы управления


Авторы

Кирпичев К. Ю. 1*, Неретин Е. С. 2**

1. Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), Волоколамское шоссе, 4, Москва, A-80, ГСП-3, 125993, Россия
2. Кафедра 703 «Системное проектирование авиакомплексов» Института № 7 «Робототехнические и интеллектуальные системы»,

*e-mail: bk@aviatex.ru
**e-mail: evgeny.neretin@ic.irkut.com

Аннотация

В данной статье описывается разработанный комплекс тестирования высокочатстоных оптоэлектонных устройств различного назначения. Основными результатами работы являются: разработка структуры и алгоритмов работы комплекса. Использование автоматизированного комплекса позволяет получить, проанализировать и сделать выводы о качестве работы таких оптоэлектронных компонентов, как лазерные диоды, фотоприёмники и матричные оптоэлектронные модуляторы света.

Ключевые слова:

автоматизированный; комплекс; тестирование; оптоэлектронный; элемент; лазерный; диод; фотодиод; модулятор


Скачать статью

mai.ru — информационный портал Московского авиационного института

© МАИ, 2000—2021

Вход