Разработка автоматизированного места тестирования высокочастотных оптоэлектронных элементов и узлов в реальном масштабе времени

Авторы

Кирпичев К. Ю.^1*, Неретин Е. С.^2**

1. Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), 125993, г. Москва, Волоколамское шоссе, д. 4
2. Кафедра 703 «Системное проектирование авиакомплексов»,

*e-mail: bk@aviatex.ru
**e-mail: evgeny.neretin@ic.irkut.com

Аннотация

В данной статье описывается разработанный комплекс тестирования высокочатстоных оптоэлектонных устройств различного назначения. Основными результатами работы являются: разработка структуры и алгоритмов работы комплекса. Использование автоматизированного комплекса позволяет получить, проанализировать и сделать выводы о качестве работы таких оптоэлектронных компонентов, как лазерные диоды, фотоприёмники и матричные оптоэлектронные модуляторы света.

Ключевые слова:

автоматизированный; комплекс; тестирование; оптоэлектронный; элемент; лазерный; диод; фотодиод; модулятор

Скачать статью