Стенд для исследования электрофизических параметров радиопоглощающих материалов и покрытий применяемых для снижения радиолокационной заметности авиационных комплексов

Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий


Авторы

Казьмин А. И.*, Манин В. А., Федюнин П. А.**, Ивануткин А. Г.***

Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил «Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина», Воронеж, Россия

*e-mail: alek-kazmin@ya.ru
**e-mail: fpa1@yandex.ru
***e-mail: mazurova83@mail.ru

Аннотация

В статье проведен анализ процесса оптимизации эффективной поверхности рассеяния (ЭПР) авиационного комплекса (АК), при снижении его радиолокационной заметности с помощью радиопоглощающих материалов (РПМ) и покрытий (РПП). При этом установлено, что одним из самых важных этапов оптимизации ЭПР является оценка электрофизических параметров (ЭФП) РПМ и РПП в ходе натурного эксперимента.

Разработан лабораторный стенд для измерения ЭФП РПП АК. Стенд является технической реализацией метода контроля параметров РПМ и РПП, использующего явление «разлития» поверхностной электромагнитной волны по плоскости и быстродействующего сканирования результатов взаимодействия поля со слоем покрытия в функциях комплекса электрофизических и геометрических параметров. Лабораторный стенд обеспечивает повышение точности и достоверности определения ЭФП РПМ и РПП и вероятностей обнаружения дефектов в них.

Ключевые слова

радиопоглощающий материал, радиопоглощающее покрытие, измерение, электрофизические параметры, эффективная поверхность рассеяния, лабораторный стенд

Библиографический список

  1. Федюнин П.А., Казьмин А.И. Способы радиоволнового контроля параметров защитных покрытий авиационной техники. — М.: Физматлит, 2013. — 190 с.

  2. Лагарьков А.Н., Погосян М.А. Фундаментальные и прикладные проблемы Стелс-технологий // Вестник Российской Академии Наук. 2003. Т.73. № 9. С.779-787.

  3. Комплексы измерительно-вычислительные. Признаки классификации. Общие положения. ГОСТ 26.203-81. — М.: Изд-во стандартов, 1983. — 13с.

  4. Метрологическое обеспечение измерительных систем. Основные положения. ГОСТ Р 8.596-2002. — М.: Изд-во стандартов, 2003. 92с.

  5. Чемодаков А.Л. Описание структуры и алгоритмов функцианирования информационно-измерительных систем. — Владивосток: Морской государственный университет имени адмирала Г.И. Невельского, 2008. — 18с.

  6. Федюнин П.А., Казьмин А.И., Кирьянов О.Е. Алгоритмы контроля и оценки неоднородностей в радиопоглощающих покрытиях // Контроль. Диагностика. 2010. № 7(145). С.60-65.

  7. Hossein M., Rahmat-Samii Y. RCS Reduction of Canonical Targets Using Genetic Algorithm Synthesized RAM // IEEE Trans. Antennas Propagat. 2000. vol. 48. № 10. pp. 1594-1606.

  8. СВЧ способ обнаружения и оценки неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металле. Патент РФ № 2507506, / Федюнин П.А., Казьмин А.И., Федюнин Д.П., Хакимов Т.М.; заявл. 23.05.2012; опубл. 20.02.2014.

  9. Казьмин А.И. Экспериментальная измерительно-вычислительная система дефектоскопии материалов / Федюнин П.А., Казьмин А.И. // Материалы XIII международной научно-методической конференции «Информатика: проблемы, методология, технология», 7-8 февраля 2013г., Воронеж, 2013. Том 3. С.353-357.


Скачать статью

mai.ru — информационный портал Московского авиационного института

© МАИ, 2000—2024

Вход