Влияние характеристик контроля на показатели надежности систем

Контроль и испытание летательных аппаратов и их систем


Авторы

Лубков Н. В. 1*, Спиридонов И. Б. 2**, Степанянц А. С. 1***

1. Институт проблем управления имени В.А. Трапезникова РАН, ул. Профсоюзная, 65, Москва, 117997, Россия
2. Корпорация «Иркут», Ленинградский проспект, 68, Москва, 125315, Россия

*e-mail: lflbk@ipu.ru
**e-mail: igori.spiridonov@irkut.com
***e-mail: lfvrk@ipu.ru

Аннотация

В статье обсуждаются вопросы влияния полноты, глубины и безотказности встроенного контроля на показатели надежности резервированных систем. Результаты и выводы статьи ориентированы на системы ответственного применения, к которым предъявляются повышенные требования по надежности и безопасности функционирования. Разработаны модели надежности ряда типовых структур, параметрами которых являются характеристики контроля работоспособности элементов. Исследованы зависимости показателей безотказности и ремонтопригодности резервированных структур от полноты контроля. Построение и анализа таких моделей позволяет обосновывать требования к характеристикам контроля и параметрам технического обслуживания.

Ключевые слова

надежность, контролепригодность, резервированные структуры, полнота контроля, глубина контроля

Библиографический список

  1. Викторова В.С., Ведерников Б.И., Спиридонов И.Б., Степанянц А.С. Моделирование и анализ контролепригодности бортовых систем самолетов // Надежность. № 3 (22). 2007. С.62-71.

  2. Техническая диагностика. Термины и определения. ГОСТ 20911-89. — М.: Изд-во стандартов, 1989. — 8 с.

  3. Техническая диагностика. Контролепригодность. Общие требования. ГОСТ 26656-85. —М.: Изд-во стандартов, 1985. — 15 с.

  4. МIL-STD-2165. Testability program for electronic systems and equipment. Department of Defense. Washington, DC 20301, 1985.

  5. Викторова В.С., Степанянц А.С. Модели и методы расчета надежности технических систем. — М.: ЛЕНАНД, 2014. — 256 с.


Скачать статью

mai.ru — информационный портал Московского авиационного института

© МАИ, 2000—2021

Вход