Устройство для определения нагрузочной способности микросхем


DOI: 10.34759/trd-2019-108-5

Авторы

Пиганов М. Н. *, Шопин Г. П. *, Назаров А. А. **, Овакимян Д. Н. ***

Самарский национальный исследовательский университет им. академика С.П. Королева, Московское шоссе, 34, Самара, 443086, Россия

*e-mail: kipres@ssau.ru
**e-mail: antonnazarov63@gmail.com
***e-mail: dd55@bk.ru

Аннотация

Обоснована необходимость учёта нагрузочной способности логических элементов и микросхем. Предложено новое устройство для определения нагрузочной способности микросхем. Устройство содержит генератор прямоугольного напряжения, испытуемую микросхему, повторитель, элементы нагрузки, коммутатор, элемент И, компаратор, счётчик импульсов, источник опорного напряжения, одновибратор, реверсивный счетчик импульсов, дешифратор, индикатор. Устройство работает в режиме высокого и низкого уровня и обеспечивает высокую точность и достоверность определения нагрузочной способности.

Ключевые слова

нагрузочная способность, интегральная микросхема, устройство определения, режимы работы, точность, достоверность, контроль

Библиографический список

  1. Белоус А.И., Солодуха В.А., Шведов С.В. Космическая электроника. – М.: Техносфера, 2015. Кн. 2. – 696 с.

  2. Заковряшин А.И. Построение функций принадлежности параметров радиоэлектронной аппаратуры по экспериментальным данным // Труды МАИ. 2017. № 95. URL: http://trudymai.ru/published.php?ID=84560

  3. Голомазов А.В., Смирнов Н.Я., Иосифов П.А. Построение концепции информационной поддержки принятия решений на основе процедур человеко-машинного взаимодействия. // Труды МАИ. 2019. № 107. URL: http://trudymai.ru/published.php?ID=107900

  4. Денискин Ю.И., Дубровин А.В., Подколзин В.Г. Управление качеством процессов жизненного цикла инновационной продукции на основе компьютерной системы менеджмента качества // Труды МАИ. 2017. № 95. URL: http://trudymai.ru/published.php?ID=84603

  5. Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. – Киев: Логос, 2002. – 486 с.

  6. S.S. Lee, D.J. Allstot. Electrotermal simulation of integrated circuits // IEEE Solid state circuit journal, 1993, Dec., pp. 1283 – 1293.

  7. Rainal A.I. Performance Limits of Electrical Interconnections to a High – Speed Chip // IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, 1988, vol. 11, issue 3, pp. 260 – 266.

  8. Мишанов Р.О. Индивидуальное прогнозирование показателей качества и надежности компонентов радиоэлектронных средств космических аппаратов: автореферат дисс. ... канд. техн. наук: 05.12.04. – Самара, 2018. – 19 с.

  9. Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г. Измерение тепловых характеристик цифровых ИС по температурным зависимостям времени задержки // Измерительная техника. 2018. № 2. С. 46 – 50.

  10. Mishanov R.O., Tyulevin S.V., Piganov M.N., Erantseva E.S. Forecasting models generation of the electronic means quality // CEUR Workshop Proceedings, 2017, pp. 124 – 129.

  11. Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г. Определение тепловых параметров цифровых микросхем по температурным зависимостям времени задержки сигнала // Автоматизация процессов управления. 2015. № 3 (41). С. 89 – 96.

  12. Mishanov R.O., Piganov M.N. Individual Forecasting of Quality Characteristics by an Extrapolation Method for the Stabilitrons and the Integrates Circuits // The experience of designing and application of CAD systems in microelectronics (CADSM 2015), Proceedings XIIIth International conference, Ukraine, Lviv, 2015, pp. 242 – 244.

  13. Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г. Оценка адекватности линейных тепловых моделей цифровых интегральных схем // Известия вузов. Электроника. 2017. № 4. С. 350 – 360.

  14. Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г. Алгоритм определения тепловых параметров цифровых интегральных схем по переходным тепловым характеристикам // Автоматизация процессов управления. 2016. № 1 (43). С. 112 – 119.

  15. Смирнов К.К., Сухов А.Г., Цимбалов А.С. Проблемы проведения испытаний микросхем в металлополимерных корпусах типа BGA // Труды МАИ. 2017. № 93. URL: http://trudymai.ru/published.php?ID=80366

  16. Федоров В.К., Сергеев Н.П., Кондрашин А.А. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств. – М.: Техносфера, 2015. – 504 с.

  17. Фролкин В.Т., Попов Л.Н. Импульсные и цифровые устройства. – М.: Радио и связь, 1992. – 336 с.

  18. Пиганов М.Н., Шопин Г.П., Тюлевин С.В., Мишанов Р.О. Патент 2613573 РФ, МПК G01R 31/28. Бюлл. № 8, 17.03.2017.

  19. Пиганов М.Н., Шопин Г.П., Тюлевин С.В., Мишанов Р.О. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем. Патент 2613568 РФ, МПК G01R 31/28. Бюлл. № 8, 17.03.2017.

  20. Мишанов Р.О., Тюлевин С.В., Шопин Г.П., Пиганов М.Н. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем // Известия Самарского научного центра РАН. 2017. Т. 19. № 1(2). С. 420 – 423.

  21. Тюлевин С.В., Шопин Г.П., Пиганов М.Н., Мишанов Р.О. Разработка устройства для определения нагрузочной способности микросхем // Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2017. Т. 20. № 1. С. 49 – 52.

  22. Пиганов М.Н., Шопин Г.П., Пустынников Д.Н., Назаров А.А., Овакимян Д.Н. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем. Патент 2649244 РФ, МПК G01R 31/28. Бюл. № 10, 30.03.2018.


Скачать статью

mai.ru — информационный портал Московского авиационного института

© МАИ, 2000—2021

Вход