Автоматизация операций прослеживаемости качества интегральных структур при производстве сверхбольших интегральных схем

Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами


Авторы

Смирнов К. К.

Научно-исследовательский институт системных исследований Российской академии наук, Нахимовский проспект, 36, корп.1, Москва, 117218, Россия

e-mail: mail@konstantinsmirnov.com

Аннотация

В статье рассматривается задача обеспечения прослеживаемости качества интегральных структур при проведении функционального контроля сверхбольших интегральных схем (СБИС) в условиях производства. Для решения данной задачи разработан оригинальный специализированный программный комплекс, обеспечивающий указанную прослеживаемость и осуществляющий обработку, анализ и представление результатов. Описана структура и функциональные возможности комплекса, приведены примеры выполнения анализа результатов измерений, полученных в условиях производства интегральных структур.

Ключевые слова

микросхемы, прослеживаемость, испытание микросхем, программное обеспечение, функциональный контроль

Библиографический список

  1. Смирнов К.К., Ефимов Е.Н. Организация прослеживаемости предметов труда при проведении функционального контроля СБИС // Труды НИИСИ РАН. 2014. Т. 4. № 1. С. 40-44.

  2. Бухтеев А.В. Методы и средства проектирования систем на кристалле // Chip news. 2003. № 4. С. 4–14.

  3. Бобков С.Г. Методика тестирования микросхем для компьютеров серии «багет» // Программные продукты и системы. 2007. № 3. С. 2-5.

  4. J. Hudec. Methodology of functional test synthesis and verification for VLSI systems // TI 2000. Proceedings of the 22nd International Conference on Information Technology Interfaces (Cat. No.00EX411), 2000, pp. 61-66.

  5. Смирнов К.К., Бубнова М.Д. Среда для подготовки программ функционального контроля // Труды НИИСИ РАН. 2014. Т.4. № 1. С. 32-39.

  6. Смирнов К.К., Описание функциональных возможностей среды FTStudio для разработки кроссплатформенных функциональных тестов СБИС // Труды НИИСИ РАН. 2015. Т. 5. № 1. С. 114-121.

  7. Ерошин Е.В. Методы и аппаратура для функционального контроля ОЗУ на МОП структурах: Дисс. канд. техн. наук. — Челябинск, 1984. — 230 c.

  8. Дембицкий Н.Л, Луценко А.В., Фам В.А. Экспертная система техноло-гической подготовки процесса сборки и монтажа узлов бортовой радиоаппаратуры // Труды МАИ. 2015. № 83. URL: http://trudymai.ru/published.php?ID=62213

  9. Добряков В.А., Енгалычев А.Н., Назаров А.В. Начальное размещение базовых элементов комплементарных металл-окисел-полупроводниковых больших интегральных схем методом случайных назначений // Труды МАИ. 2014. № 72. URL: http://trudymai.ru/published.php?ID=47562

  10. Чистяков М.Г., Назаров А.В., Морозов С.А. Методология проектирования радиационно-стойких элементов для САПР электронно-компонентной базы типа "система-на-кристалле // Труды МАИ. 2016. № 90. URL: http://trudymai.ru/published.php?ID=74853


Скачать статью

mai.ru — информационный портал Московского авиационного института

© МАИ, 2000—2024

 Вход