Сравнительный анализ тестовых систем ПЛИС и их окружения


DOI: 10.34759/trd-2022-125-22

Авторы

Брехов О. М.*, Ратников М. О.**

Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), 125993, г. Москва, Волоколамское шоссе, д. 4

*e-mail: obrekhov@mail.ru
**e-mail: m.o.ratnikov@mail.ru

Аннотация

Данная работа посвящена исследованию и анализу используемых в настоящее время тестовых систем ПЛИС и их системного окружения, разработанных как отечественными, так и зарубежными исследователями. Рассмотрено более 30 тестовых систем, основанных на использовании: встроенных структур самотестирования (BIST), специально разработанных систем и систем, частично или полностью использующие целевую прошивку. Рассматриваемые системы применялись для решения различных задач: входной контроль ПЛИС, тестирование коммутационной сети, тестирование отдельных ячеек и встроенных IP-ядер, тестирование системного окружения ПЛИС (внешних соединений ПЛИС и подсистемы питания), анализ электрических, динамических и функциональных характеристик в различных условиях, поиск одиночных сбоев и отказов. Рассмотрены системы, использованные при исследовании микросхем на стойкость к воздействию лазера, потока заряженных частиц (в том числе исследования в рамках проекта Alice CERN и исследования, проводимые как поставщиками ПЛИС, так и сторонними исследователями для сравнения характеристик различных ПЛИС), накопленной дозы радиации, повышенной температуры и изменения напряжения питания. Также рассмотрены системы и методы, которые применяются для проведения отладки системы на базе ПЛИС. Также в списке рассмотренных тестовых систем присутствуют системы, использованные в качестве демонстратора применения методик анализа энергопотребления, динамических характеристик, надежности и сбоеустойчивости, а также тестирования и разработки систем на основе ПЛИС. Результатом работы является классификация рассмотренных систем, анализ преимуществ и недостатков рассматриваемых систем и предложения по дальнейшему развитию тестовых систем ПЛИС и их системного окружения.

Ключевые слова:

СБИС, ПЛИС, тестирование, тестовая система, сбоеустойчивость

Библиографический список

  1. Матафонов Д.Е. Создание и отработка маршрутизатора в стандарте SpaceWire на отечественной программируемой логической интегральной схеме // Труды МАИ. 2018. № 103. URL: https://trudymai.ru/published.php?ID=100780
  2. Муллов К.Д. Воздействие космической радиации на цифровые устройства на базе ПЛИС и методы повышения радиационной стойкости данных систем // Труды МАИ. 2016. № 87. URL: https://trudymai.ru/published.php?ID=69720
  3. Nicholas Wulf, Alan D. George, Ann Gordon-Ross. A Framework for Evaluating and Optimizing FPGA-Based SoCs for Aerospace Computing // ASM Transactions on Reconfigurable Technology Systems, 2016, vol. 10-1. DOI: 10.1145/2888400
  4. Cheynis B., Ducroux L., Grossiord J.-Y., Guichard A., Pillot P. et al. Radiation effects on V0 detector elements // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 2006, vol. 569, issue 3, pp. 732-736. DOI: 10.1016/j.nima.2006.09.086
  5. Andrea Alici, Antonioli P., Mati A., Meneghini S., Pieracci M. et al. Radiation tests of key components of the ALICE TOF Tdc Readout Module // Proceedings of 10th Workshop on Electronics for LHC Experiments and future Experiments, Boston, 13-17 September 2004.
  6. Jakub Podivinsky, Ondrej Cekan, Marcela Simkova, Zdenek Kotasek. The Evaluation Platform for Testing Fault-Tolerance Methodologies in Electro-mechanical Applications // 2014 Proceeding of the 17th Euromicro Conference on Digital System Design, 2014, pp. 312-319. DOI: 10.1109/DSD.2014.57
  7. van Harten L.D., Mousavi M., Jordans R., Pourshaghaghi H.R. Determining the Necessity of Fault Tolerance Techniques in FPGA Devices for Space Missions // Microprocessors and Microsystems, 2018, no. 63, pp. 1-10. DOI: 10.1016/j.micpro.2018.08.001
  8. Abramovici M., Stroud C.E. BIST-Based Delay-Fault Testing in FPGAs // Journal of Electronic Testing, 2003, vol. 19, pp. 549–558. URL: https://doi.org/10.1023/A:1025126030727
  9. Alireza Sarvi, Carthik A. Sharma, Ronald F. DeMara. BIST-BASED Group Testing for Diagnosis of Embedded FPGA Cores // Proceedings of the 2008 International Conference on Embedded Systems & Applications, July 14-17 2008, Las Vegas, Nevada, USA.
  10. Latha M., Senthilmurugan M. Fault Detection and Fault Diagnosis in SRAM-Based FPGA Using BIST // Computer Science, Engineering, 2012, vol. 2, no. 4, pp. 609-614.
  11. Bradley F. Dutton, Charles E. Stroud. Built-In Self-Test of Configurable Logic Blocks in Virtex-5 FPGAs // 41st Southeastern Symposium on System Theory, 2009. DOI: 10.1109/SSST.2009.4806778
  12. Fazal Noorbasha, K. Harikishore, Ch. Hemanth, A. Sivasairam, V. Vijaya Raju. LFSR Test pattern for fault detection and diagnosis for FPGA clb cells // International Journal of Advances in Engineering & Technology, March 2012, vol. 3 (1), pp. 240-246.
  13. Manuel G. Gericota, Gustavo R. Alves, Miguel L. Silva, José M. Ferreira. On-line Testing of FPGA Logic Blocks Using Active Replication // Norwegian Computer Science Conference (NIK’02), Kongsberg, Norway, November 2002, URL: https://www.researchgate.net/publication/228854731
  14. Ian G. Harris, Russell Tessier. Testing and Diagnosis of Interconnect Faults in Cluster-Based FPGA Architectures // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Xplore, 2002, vol. 21(11), pp. 1337–1343. DOI: 10.1109/TCAD.2002.804108.
  15. J.L.V. Ramana Kumari, M. Asha Rani, N. Balaji, V. Sirisha. FPGA Implementation of Test Vector Monitoring BIST Architecture System // Conference paper «Microelectronics, Electromagnetics and Telecommunications», December 2016. DOI: 10.1007/978-81-322-2728-1_67.
  16. Akhmetov A.O., Sorokoumov G.S., Smolin A.A. et al. Proton Accelerator‟s Direct Ionization Single Event Upset Test Procedure // Proceedings IEEE 31st International Conference ON Microelectronics (MIEL), Niš, Serbia, September, 16-18, 2019, pp. 107-113.
  17. Yasuo Sato. In-Field Monitoring of Device Degradation for Predictive Maintenance. VLSI Design and Test for Systems Dependability, Springer Japan KK, 2019, pp 224.
  18. Hadi Jahanirad, Hanieh Karam. BIST-based Testing and Diagnosis of LUTs in SRAM-based FPGAs // Emerging Science Journal, 2017, vol. 1, no. 4, pp. 216-225.
  19. Mehdi Baradaran Tahoori. Application-Dependent Diagnosis of FPGAs // Proceeding of 2004 International Conference on Test, 2004. DOI: 10.1109/TEST.2004.1387002.
  20. Yong-Bo Liao, Ping Li, Ai-Wu Ruan, Yi-Wen Wang, Wen-Chang Li. A HW/SW Co-Verification Technique for FPGA Test // Journal of Electronic Science and Technology of China, 2009, vol. 1, no. 4, pp. 390-394.
  21. Chi-Feng Wu, Cheng-Wen Wu. Testing and Diagnosing Dynamic Reconfigurable FPGA // Computer Science, 2000, vol. 10, no. 3, pp. 321-333. DOI: 10.1155/2000/79281.
  22. Martin Rozkovec, Jiri Jenicheck, Zdenek Pliva. Using deterministic test vectors to test FPGA circuit // Proceedings of the 2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2013. pp. 175-180.
  23. Зыкав Д., Ковригин В. Об одном подходе к снижению трудоемкости на этапе проверки функционирования электронных устройств на ПЛИС // Компоненты и технологии. 2004. № 3 (38). C. 168-170.
  24. Wang Zhongming, Yao Zhibin, Guo Hongxia, Lü Min. A software solution to estimate the SEU-induced soft error rate for systems implemented on SRAM-based FPGAs // Computer Science, 2011, vol. 32, no. 5, pp. 1-8. URL: https://doi.org/10.1088/1674-4926/32/5/055008
  25. Cinzia Bernardeschi, Luca Cassano and Andrea Domenici. Failure probability of SRAM-FPGA systems with Stochastic Activity Networks // Proceeding of the 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, 2011. DOI: 10.1109/DDECS.2011.5783098.
  26. Menichelli, A. Papi, Jeffery Wyss. Ion beam testing of SRAM-based FPGA’s // 6th European Conference: Proceeding of the «Radiation and Its Effects on Components and Systems», 2001. DOI:10.1109/RADECS.2001.1159326
  27. Gregory R. Allen, Gary M Swift, Single Event Effects Test Results for Advanced Field Programmable Gate Arrays // 2006 IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2006, pp. 115-120. DOI: 10.1109/REDW.2006.295478
  28. Niranjan Manoharan. Reliable and Fault-Resilient Schemes for Efficient Radix-4 Complex Division // Computer Science, 2014.
  29. Brian Pratt, Michael Caffrey, Paul Graham, Keith Morgan, Michael Wirthlin. Improving FPGA Design Robustness with Partial TMR // 2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, pp. 226-232. DOI: 10.1109/RELPHY.2006.251221.
  30. Бобровский Д.В. Методы и средства прогнозирования стойкости ПЛИС к воздействию радиационных факторов космического пространства: дисс. канд. техн. наук. — М.: МИФИ, 2011.
  31. Garcia, T. Gomes, F. Salgado, J. Cabral, P. Cardoso, M. Ekpanyapong, A. Tavares. A Fault Tolerant Design Methodology for a FPGA-based Softcore Processor // Proceedings of the 1st IFAC Conference on Embedded Systems, Computational Intelligence and Telematics in Control — CESCIT, Würzburg, Germany, 2012.
  32. A.B. Sanders, K.A. LaBel, C. Poivey, Joel A. Seely. Altera Stratix EP1S25 Field-Programmable Gate Array (FPGA) // NASA/GSFC at 2005 MAPLD Conference, Washington, 2005, NASA, Washington DC, USA.
  33. Khalil Arshak, Essa Jafer, and Christian Ibala. Testing FPGA based digital system using XILINX ChipScopeTM logic analyzer // 29th International Spring Seminar on Electronics Technology, 2006, pp. 355-360. DOI: 10.1109/ISSE.2006.365129.
  34. Marcos T. Leipnitz, Gabriel L. Nazar, Fault Tolerance. Mechanisms for FPGA-Based Regular Expression Matching // Journal of Electronic Testing, 2018, vol. 34, pp. 487–506.
  35. Canivet G., Maistri P., Leveugle R. et al. Glitch and Laser Fault Attacks onto a Secure AES Implementation on a SRAM-Based FPGA // Journal of Cryptology, 2011, vol. 24, no. 2, pp. 247–268.
  36. Осипенко П.Н., Антонов А.А., Левадский С.А. Исследование архитектурной чувствительности к сбоям с использованием метода статистического внесения сбоев // Программные продукты и системы. 2010. Т. 4. C. 12-15.

Скачать статью

mai.ru — информационный портал Московского авиационного института

© МАИ, 2000—2024

 Вход